AFM（原子力顯微鏡）_百度百科
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行
特別報導_古典梁理論和先進原子力顯微鏡應用
原子力顯微鏡觀測原理簡介： 原子力顯微鏡主要是一種觀測力學的變化方法，透過降低探針的高程，並觀測微懸臂梁的彎曲變形（或共振頻率變化），得知探針已碰觸試體（或在原子力影響高程內），再由探針下針的推進高程，相對換算試體單點的高程。
小樣品臺原子力顯微鏡 – Atomic Force Microscopy
布魯克的小樣品臺原子力顯微鏡能在材料和生命科學領域輕易達到原子力顯微鏡最高的解析度，比如下針即實現 DNA 的雙螺旋結構成像。 這壹系列的原子力顯微鏡具有獨有的創新，在成像速度，解析度和奈米機械性能測量上超過其它原子力顯微鏡。
原子力顯微鏡（AFM）
儀器名稱：掃描探針顯微鏡（Atomic Force Microscope， AFM） 廠牌：本原納米儀器有限公司 型號：CSPM5500 附屬設備：氣浮式光學防震桌，空壓機 工作模式：原子力，橫向力，接觸模式，輕敲模式，相移成像模式，環境檢測 代理商：實密科技股份有限公司
services- 閎康
C-AFM 導電原子力顯微鏡(C-AFM)，以原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）為架構，並根據其探針與表面的作用方式，進而增加的功能選項之一。 AFM工作機制是利用探針針尖原子與表面原子之間的作用力大小導致探針懸臂偏折，藉由偵測懸臂偏折的
顯微鏡
原子力顯微鏡 主條目： 原子力顯微鏡 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）用來探測樣本表面與探針交互作用力，推出探針到樣本表面的距離，因此可「看」到非金屬或金屬表面。
發明 ·
原子力顯微鏡AFM-優鈦科技有限公司
AFM原子力顯微鏡，行星脫泡攪拌機(Vaccum mixer)，主動和被動振動臺Active and Passive isolation table)，濺鍍機(Sputter coater)，奈米壓痕儀Nanoindenter，白光聚焦表面輪廓儀Profilometer，掃描電子顯微鏡SEM，橢偏儀Ellipsometer及特用耗材AFM探針，靶材
原子力顯微鏡(AFM)- 全球市場預測(2017年～2026年) -GII
全球原子力顯微鏡(AFM)市場，預測從2017年到2026年將以6.8％的年複合成長率發展。高解析度顯微鏡的必要性高漲，及生物學及生命科學領域的原子力顯微鏡(AFM)的利用的增加等促進這個市場成長。 本報告提供全球原子力顯微鏡(AFM)市場調查，市場概要
原子力顯微鏡 SPM-8000FM
原子力顯微鏡 SPM-8000FM 原子力顯微鏡 SPM-8000FM SHIMADZU 光譜儀 層析儀 元素分析 點擊圖片放大 商品名稱: 原子力顯微鏡 SPM-8000FM 詳細介紹: HR-SPM為採用FM頻率調變檢出方式的新世代掃描型探針顯微鏡。過去的SPM(掃描型探針
三朋儀器股份有限公司-電磁力式微小試驗機
原子力顯微鏡 原子力顯微鏡AFM 附件產品 離子拋光機 離子研磨機 桌上型線切割機 產業應用 全部產品 電路板 黏度試驗機 拉伸/剝離(peeling)試驗機 硬度機 疲勞試驗機 高分子 / 橡塑膠 / 紡織 拉伸/壓縮試驗機 疲勞試驗機 粒徑分析 黏度試驗機 橡膠/輪胎相關試驗機
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡 原子力顯微鏡 關於服務提供單位 國立臺灣大學 應用力學研究所 奈米生醫微機電系統研究群 電子郵件信箱： [email protected] 聯絡電話：02-33665600 註冊日期：2017-02-07
原子力顯微鏡 AFM
嚴世勳，”新型原子力顯微鏡使用DVD 讀取頭在水裡之應用 ，” Master Thesis， Institute of Electrical Engineering， National Taiwan University， R.O.C.， 2009. Chih-Hsien Lin ( 林志憲 )， “新型電磁致動與減震之三自由度撓摺結構精密定位平臺/strong> ，” Master Thesis
布魯克原子力顯微鏡Innova|BRUKER|江南儀器
Innova®原子力顯微鏡（AFM）可為物理，生命和材料科學的高級研究提供準確，高分辨率的成像和廣泛的功能。 該系統經過精心設計，可為最苛刻的科學研究提供無與倫比的生產力，易用性和應用靈活性組合，而且成本適中。 2.最高分辨率成像
73-原子力顯微鏡(AFM)
73-原子力顯微鏡(AFM) 瀏覽數 地址:106-07 臺北市大安區基隆路四段43號 工程二館 E2 總機:02-2733-3141，系辦公室:02-2737-6611 fax:02-27376644
TSRI
多模式原子力顯微鏡-ICON 一，系統規格及型號： 1.機型：Bruker Dimension Icon Scanning Probe Microscope (ICON) 2.最大平面掃描範圍：90 × 90μm 3.最大高度掃描範圍：~10μm 4.最小解析度：~1nm in X-Y，~ Å in Z direction 5.雜訊：RMS ~0.5 Å
